加入收藏  设为首页
 
返回首页 | English  
   首页   |   期刊介绍   |   编 委 会   |   投稿简则   |   投稿须知   |   获奖情况   |   被收录情况   |   影响因子   |   期刊订阅   |   联系我们   |   专利保护知识问答   |   版权转让协议   |   介绍信(格式)   |   保密审查单   |   投稿模板
光谱学与光谱分析  2012, Vol. 32 Issue (04): 1142-1144    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2012)04-1142-03
  光谱学与光谱分析 |
基于椭偏光谱仪的石英晶体1 310 nm处双折射率的精密测量
韩培高,郝殿中,宋连科,苏富芳,史 萌,吕廷芬,吴福全,李国华
山东省激光偏光与信息技术重点实验室,曲阜师范大学激光研究所,山东 曲阜 273165
Precision Measurement of the Birefringence of Quartz Crystal at 1 310 nm Based on the Spectroscopic Ellipsometer
HAN Pei-gao, HAO Dian-zhong, SONG Lian-ke, SU Fu-fang, SHI Meng, Lü Ting-fen, WU Fu-quan, LI Guo-hua
Shandong Provincial Key Laboratory of Laser Polarization and Information Technology, Laser Institute, Qufu Normal University, Qufu 273165, China