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光谱学与光谱分析  2004, Vol. 24 Issue (04): 495-498    
  光谱学与光谱分析 |
金属表面硅烷试剂膜结构及性能表征方法
徐 溢1,2,唐守渊1,张晓凤1
1. 重庆大学化学化工学院,重庆 400044
2. 光电技术及系统教育部重点实验室,重庆 400044
Characterizing Methods of Structure and Character for Silane Film on Metal Surface
XU Yi1,TANG Shou-yuan2,ZHANG Xiao-feng2
1. Chemistry and Chemical Engineering College, Chongqing University, Chongqing 400044, China
2. Photo-electric Technology & System Key Lab of Chinese Educational Committee, Chongqing 400044, China