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光谱学与光谱分析  2025, Vol. 45 Issue (01): 95-100    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2025)01-0095-06
  论文 |
四线法弱发光样品绝对量子产率的测量
郑永丽1,张晓东2,周永丰1
1. 上海交通大学化学与化工学院,上海 200240
2. 上海珩翼行科技有限公司,上海 200235
Measurement of Absolute Quantum Yield of Weak Luminescence Samples by Four-Line Method
ZHENG Yong-li1, ZHANG Xiao-dong2, ZHOU Yong-feng1
1. School of Chemistry and Chemical Engineering, Shanghai Jiao Tong University, Shanghai 200240, China
2. Shanghai Hengyixing Technology Co., Ltd., Shanghai 200235, China