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光谱学与光谱分析  2010, Vol. 30 Issue (10): 2729-2733    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2010)10-2729-05
  光谱学与光谱分析 |
基于高光谱成像的苹果多品质参数同时检测
单佳佳,吴建虎,陈菁菁,彭彦昆*,王 伟,李永玉
中国农业大学工学院,北京 100083
Rapid Nondestructive Detection of Apple Quality Attributes Using Hyperspectral Scattering Images
SHAN Jia-jia, WU Jian-hu, CHEN Jing-jing, PENG Yan-kun*, WANG Wei, LI Yong-yu
College of Engineering, China Agricultural University, Beijing 100083, China