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光谱学与光谱分析  2014, Vol. 34 Issue (06): 1624-1628    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2014)06-1624-05
  光谱学与光谱分析 |
自适应的EEMD残余相关基线校正算法
赵肖宇1, 2,方一鸣1,关 勇3,王志刚4,佟 亮5,谭 峰2
1. 燕山大学电气工程学院,河北 秦皇岛 066004
2. 黑龙江八一农垦大学信息技术学院,黑龙江 大庆 163319
3. 大庆石化工程有限公司,黑龙江 大庆 163317
4. 齐齐哈尔大学生命科学与农林学院,黑龙江 齐齐哈尔 161006
5. 通信与电子工程学院,黑龙江 齐齐哈尔 161006
Adaptive EEMD Residue Related Baseline Correction Algorithm
ZHAO Xiao-yu1,2, FANG Yi-ming1, GUAN Yong3, WANG Zhi-gang4, TONG Liang5, TAN Feng2
1. Institute of Electrical Engineering, Yanshan University, Qinhuangdao 066004, China
2. College of Information Technology, Heilongjiang Bayi Agricultural University, Daqing 163319, China
3. Daqing Petrochemical Engineering Co., Ltd., Daqing 163317, China
4. College of Life Science and Forestry, Qiqihar University, Qiqihar 161006, China
5. Communication and Electronic Engineering Institute, Qiqihar University, Qiqihar 161006, China