加入收藏  设为首页
 
返回首页 | English  
   首页   |   期刊介绍   |   编 委 会   |   投稿简则   |   投稿须知   |   获奖情况   |   被收录情况   |   影响因子   |   期刊订阅   |   联系我们   |   专利保护知识问答   |   版权转让协议   |   介绍信(格式)   |   保密审查单   |   投稿模板
光谱学与光谱分析  2011, Vol. 31 Issue (02): 565-569    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2011)02-0565-05
  光谱学与光谱分析 |
基于非完整表面缺陷模式的一维光子晶体高分辨率折射率传感器
闫江周1, 2,吴一辉1*,宣 明1,郝 鹏1
1. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 应用光学国家重点实验室,吉林 长春 130033
2.中国科学院研究生院,北京 100049
High Resolution Refractive Index Sensor Based on the Non-Complete Surface State of 1-D Photonic Crystal.
YAN Jiang-zhou1, 2, WU Yi-hui1*, XUAN Ming1, HAO Peng1
1. State Key Laboratory of Applied Optics, Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Changchun 130033, China
2. Graduate University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China