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光谱学与光谱分析  2010, Vol. 30 Issue (11): 3156-3160    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2010)11-3156-05
  光谱学与光谱分析 |
115~180 nm远紫外临边成像光谱仪信噪比分析与验证
于 磊1,2,林冠宇1,曲 艺1,王淑荣1*
1. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室,吉林 长春 130033
2. 中国科学院研究生院,北京 100049
Analysis and Experimental Verification of SNR for a Far Ultraviolet Imaging Spectrograph in 115-180 nm
YU Lei1,2, LIN Guan-yu1, QU Yi1, WANG Shu-rong1*
1. Key Laboratory of Applied Optics,Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Changchun 130033, China
2. Graduate University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China