加入收藏  设为首页
 
返回首页 | English  
   首页   |   期刊介绍   |   编 委 会   |   投稿简则   |   投稿须知   |   获奖情况   |   被收录情况   |   影响因子   |   期刊订阅   |   联系我们   |   专利保护知识问答   |   版权转让协议   |   介绍信(格式)   |   保密审查单   |   投稿模板
光谱学与光谱分析  2023, Vol. 43 Issue (02): 495-502    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2023)02-0495-08
  论文 |
基于连续波太赫兹频域光谱系统的样品折射率测定方法
张天尧1,2,李博扬1,李星玥1,李 迎1,吴先毫1,赵小燕1,张朝晖1*
1. 北京科技大学自动化学院,北京市工业波谱成像工程技术研究中心,北京 100083
2. 北京科技大学材料科学与工程学院材料物理系,北京 100083
Refractive Index Measurement Using Continuous Wave Terahertz Frequency-Domain Spectroscopy
ZHANG Tian-yao1, 2, LI Bo-yang1, LI Xing-yue1, LI Ying1, WU Xian-hao1, ZHAO Xiao-yan1, ZHANG Zhao-hui1*
1. Beijing Engineering Research Center of Industrial Spectrum Imaging, School of Automation and Electrical Engineering, University of Science and Technology Beijing, Beijing 100083, China
2. Department of Materials Physics, School of Materials Science and Engineering, University of Science and Technology Beijing, Beijing 100083, China