空间偏移拉曼光谱分析技术及其在食品次表层检测中的应用

刘振方, 黄敏^*, 朱启兵, 赵鑫, 闫胜琪

Spatially Offset Raman Spectroscopy Analysis Technology and Application in Food Subsurface Detection

LIU Zhen-fang, HUANG Min^*, ZHU Qi-bing, ZHAO Xin, YAN Sheng-qi

(a)表层 t (Δ ν ~ )和次表层 b (Δ ν ~ )拉曼光谱及典型谱峰; (b)偏移相关拟合系数 T ( s )、 B ( s )和(c)两个次表层峰值的归一化 SNR 与偏移量的关系^{[ 16 ]}