基于太赫兹时域光谱技术的CFRP薄涂层厚度检测方法
黄宇蕾1,2, 李卫星1,2, 朱美强1,2,*, 张楠3,4, 柯琳5, 邹亮1,2
1. 中国矿业大学信息与控制工程学院, 江苏 徐州 221116
2. 中国矿业大学地下空间智能控制教育部工程中心, 江苏 徐州 221116
3. 苏州太赫信息科技有限公司, 江苏 苏州 215127
4. 新加坡国立大学, 新加坡 119077
5. 新加坡科技局材料与工程研究所, 新加坡 138634
*通讯作者 e-mail: zhumeiqiang@cumt.edu.cn

作者简介: 黄宇蕾,女, 1997年生,中国矿业大学信息与控制工程学院硕士研究生 e-mail: huangyulei@cumt.edu.cn

摘要

针对碳纤维增强复合材料(CFRP)上的薄涂层测厚存在的基底各向异性、 多重反射、 回波重叠、 环境噪声等问题, 提出基于太赫兹时域光谱技术与稀疏分解的涂层测厚方法, 并在仿真波形和实际样品上成功验证。 CFRP通常由碳纤维与环氧基体牢固结合并多层复合而成, 具有各向异性特点, 在光学性质上表现为CFRP上同一位置不同入射方向、 同一入射方向不同位置的反射波形均存在差别。 这致使基于理论模型的优化算法用于其上涂层测厚时精度有待提高。 另外, 在涂层较薄时, 受噪声与多重反射等因素的干扰, 无法直接在时域根据反射波形区分涂层界面, 即直接使用飞行时间法(TOF)难以获得涂层厚度。 为此, 使用稀疏分解法来定位薄涂层的分界面, 再结合TOF法计算CFRP上薄涂层的厚度。 首先, 分析了多层结构上的太赫兹反射信号与信号稀疏分解模型之间的联系, 并利用参考信号构成稀疏字典。 然后, 鉴于太赫兹信号的传播路径只在分界面发生改变这一先验知识, 即涂层层数决定了信号稀疏分解后非零脉冲个数, 使用前向正交匹配追踪算法(LAOMP)求解太赫兹反射信号的稀疏表示。 LAOMP算法可直接指定稀疏度, 便于选择稀疏脉冲定位涂层分界面。 获得对应于各涂层界面的脉冲后, 使用TOF法求得涂层的厚度。 最后, 在总厚度分别为102和66 μm的双涂层仿真数据与实际样品上验证方法的性能, 并与经典基于L1范数的谱投影梯度算法(SPGL1)进行了对比。 结果表明: 在相邻涂层折射率差别较小的情况下, LAOMP算法可以有效检测CFRP上35 μm的薄涂层。 在总厚度为66 μm的双涂层样件上, 检测误差在11%以内, 具有调参简单、 结果稳定的优点。

关键词: 太赫兹时域光谱; 涂层测厚; CFRP; 稀疏分解; 飞行时间法
中图分类号:O433.4 文献标志码:A
Thin Coatings Thickness Detection of CFRP Based on Terahertz Time-Domain Spectroscopy
HUANG Yu-lei1,2, LI Wei-xing1,2, ZHU Mei-qiang1,2,*, ZHANG Nan3,4, KE Lin5, ZOU Liang1,2
1. School of Information and Control Engineering, China University of Mining and Technology, Xuzhou 221116, China
2. Engineering Research Center of Intelligent Control for Underground Space, Ministry of Education, China University of Mining and Technology, Xuzhou 221116, China
3. Suzhou TeraScan Technologies Co., Ltd., Suzhou 215127, China
4. National University of Singapore, Singapore 119077
5. Institute of Materials Research and Engineering, Agency for Science, Technology and Research, Singapore 138634
*Corresponding author
Abstract

To address the challenges of substrate anisotropy, multiple reflections, echo overlap, and environmental noise in measuring thin coatings on CFRP, a coating thickness measurement method based on terahertz time-domain spectroscopy and sparse decomposition is proposed. This method has been successfully validated on simulated waveforms and real samples. CFRP composites are multilayer; each layer is typically composed of carbon fibers firmly bound with an epoxy matrix. CFRP composites are anisotropic, with variable reflection at the same location in different incidence directions and locations in the same incidence direction. As a result, the measurement accuracy of coating thickness needs to be improved when the optimization algorithm based on the theoretical model is used. In the case of thin coatings, direct differentiation of coating interfaces in the time domain is challenging due to noise and multiple reflections. Therefore, the conventional time-of-flight method(TOF) alone can't work well. To address this, sparse decomposition is utilized to locate the interfaces of thin coatings, and then the TOF is applied to calculate the thickness. Initially, the relationship between terahertz reflection signals on multilayer structures and sparse decomposition models is analyzed, and a sparse dictionary is constructed using reference signals. Then, with the prior knowledge that the propagation path of terahertz signals only changes at coating interfaces, the number of nonzero pulses in the sparse decomposition of the terahertz reflected in the number of coating layers determines the signal. Based on the above facts, the LAOMP algorithm is selected to solve the sparse representation of the terahertz-reflected signal. The LAOMP algorithm specifies the sparsity directly, facilitating the selection of sparse pulses to locate the layer interface. After obtaining the pulses corresponding to each coating interface, the thickness can be solved by TOF. Finally, this proposed method is validated for both simulated data and the samples with two coating layers. The total thickness of CFRP samples is 102 and 66 μm, respectively. The method also is compared with the classical spectral projection gradient-based L1 (SPGL1). The results show that the LAOMP algorithm can effectively detect the thin coating of 35 μm on CFRP with a small refractive index difference of adjacent coatings, and the total error of the double coating sample is less than 11% when the total thickness is 66 μm. Compared with SPGL1, the parameter tuning of the LAOMP is easier, and the decomposed sparse impulses are more stable.

Keyword: Terahertz time-domain spectroscopy; Coating thickness measurement; CFRP; Sparse decomposition; Time-of-flight method
引言

碳纤维增强复合材料[1](carbon fiber reinforced polymer, CFRP)有重量轻、 刚度高、 减震效果好、 耐疲劳、 耐腐蚀等优点, 被广泛应用在航空航天、 船舶、 汽车与能源等行业。 为了进一步提高产品的耐高温、 耐腐蚀与防水等性能, 会在其表面涂上多种防护涂层。 涂层厚度对涂层的功能性具有至关重要的影响, 合理的涂层厚度不仅有利于涂装质量的稳定, 更可以节约涂料, 降低成本。

传统的涂层厚度测量方法需要破坏样品, 难以应用到实际工业环境。 因此, 超声、 涡流、 X射线、 太赫兹等无损检测技术更受青睐。 其中, 由于太赫兹波具有相干性、 瞬态性、 低能性、 对人体无害等优点[2], 太赫兹时域光谱测厚技术近年成为研究热点[3]。 目前, 根据太赫兹波的发射与接收配置方式, 太赫兹时域光谱测厚技术分为透射式与反射式两类, 对于金属与CFRP基底的涂层, 通常使用反射式测量。

现阶段, 太赫兹时域光谱测厚方法主要有基于理论模型的优化法与飞行时间法(time-of-flight, TOF)两大类。 基于理论模型的优化法是一类迭代求解的方法, 其通过构建电磁波的多层介质传播模型、 色散模型等理论模型, 产生仿真信号, 然后使用优化算法, 使仿真信号与实际信号误差最小。 2016年, Krimi等[4]使用广义的Rouard模型与色散Debye模型对信号进行建模仿真, 使用差分进化算法求解涂层厚度, 实现了四层涂层的精确测量。 曹丙花等[5]在修正的(考虑表面粗糙度)多层样品厚度理论模型基础上, 提出自适应教与学优化算法, 实现了金属基底上多层涂层的厚度检测, 并提高了算法的寻优精度和效率。 然而, 基于理论模型的优化方法, 测量精度依赖于模型的准确度与各层材料光学参数的精确度, 存在收敛速度慢、 容易陷入局部最优的问题。 与金属基底不同, CFRP材料具有各向异性[6], 太赫兹反射波形与其内部的结构、 碳纤维方向、 入射太赫兹波的偏振方向密切相关, 在光学参数上表现为同一位置不同入射方向有相异的折射率, 不同位置同一入射方向的折射率也可能不相同, 使用模型法只能取CFRP材料各方向、 各位置的平均折射率用于计算, CFRP的光学参数求取过程复杂, 涂层测量精度也有待进一步提高。

基于飞行时间的厚度测量方法直接在时域内进行, 通过各分界面反射回波的飞行时间差计算厚度。 当涂层较厚时, 各涂层界面对应的脉冲峰值可明显区分, 飞行时间法具有较好的效果。 Im等[7]利用太赫兹技术结合飞行时间法实现了CFRP复合材料上100 μ m涂膜的厚度测量。 然而, 当涂层较薄, 特别是层间折射率相差不大时, 由于多重反射、 反射回波重叠、 环境噪声等问题, 无法直接在时域波形里确定各涂层界面的第一个反射波形, 飞行时间法效果不佳甚至失效。 为此, 张洪桢等[8]将模型法与飞行时间法相结合, 提出了一种基于随机优化算法的太赫兹测厚方法, 实现了对金属基底上厚度不小于60 μ m的涂层厚度求解, 但该方法应用于多层样品时, 效果不理想。

为了进一步提高TOF方法测量薄涂层的精度, 一系列的信号处理方法也被引入。 涂层的结构可近似看作一个线性系统, 该线性系统的脉冲响应函数包含涂层的层数、 光学参数与厚度等信息, 测量的太赫兹反射信号可看作是太赫兹入射信号与系统脉冲响应函数(传递函数)的卷积结果。 因此求解脉冲响应函数可转换为反卷积问题, 但是直接反卷积逆运算会在脉冲响应函数中引入振铃效应, 降低反卷积的性能。 为了消除振铃效应, Chen[9]等使用了FWDD(frequency-wavelet domain deconvolution)方法。 然而, 不可缺少的滤波过程可能会对分辨率造成限制, 阻碍了该方法在太赫兹无损检测中的实际应用。 由于太赫兹信号的传播路径只在分界面发生改变, 所以多涂层结构的理想脉冲响应函数在时域上表现为一系列稀疏的脉冲序列, 因此其求解问题可以转换为信号的稀疏表示与信号重建问题。 Xu等[10]基于稀疏表示的思想, 使用基于L1范数的谱投影梯度算法( spectral projection gradient based L1, SPGL1)实现了各向同性基底上多层复杂结构的太赫兹回波定位。 但是, SPGL1算法无法准确区分稀疏脉冲的位置, 且SPGL1方法调参繁琐, 更侧重于信号的重建精度[11], 致使稀疏分解得到的脉冲数远大于涂层的分界面数, 不便于后续涂层分界面的定位。 而涂层测厚应用中的稀疏分解方法应更关注稀疏脉冲的位置与个数, 因此关注到贪婪算法[12]。 稀疏分解求解的本质是一个NP-hard(non-deterministic polynomial-hard)问题, 贪婪算法求得的是一个近似解, 而SPGL1求得的是一个近似问题的解, 贪婪算法更能区分稀疏脉冲的位置。 同时, 贪婪算法可以根据涂层层数的先验信息, 直接指定求解的稀疏脉冲个数, 调参简单。 为此, 本文将贪婪算法用于CFRP上的多涂层测厚。

综上所述, 现有的涂层测厚研究并未深入讨论CFRP基底各向异性对涂层测量的影响, 或是求取各入射方向、 各点的平均折射率将其作为各向同性基底进行处理, 或是使用TOF方法只对其上单层超过100 μ m的厚涂层进行研究。 为此, 本文使用贪婪算法中的前向正交匹配追踪算法(look ahead orthogonal matching pursuit, LAOMP)进行CFRP基底上多层薄涂层的信号分离。 考虑到CFRP基底上通常有树脂表层, 太赫兹信号在入射到CFRP基底之前, 就已经包含了涂层的厚度信息。 因此, 稀疏分解方法可以定位薄涂层界面, 从而避免CFRP的各向异性特质, 最后再利用飞行时间法即可实现涂层的厚度检测。

1 原理与方法
1.1 基于CFRP结构的太赫兹波传播路径

本实验以CFRP为基底, 结构如图1所示, 后续在基底上喷涂2层漆层, 分别为白漆(white)和底漆(primer), 它们的折射率在0~2 THz内均基本保持不变, 取值分别为2.35和2.27。 因为样品由树脂传递模塑成型工艺制作而成, 因此在CFRP表面还存在一个树脂层, 如图1所示。 当太赫兹脉冲E0入射到待测样品, 不考虑多重反射时, 脉冲可以在各界面处发生反射, 得到E1E3这三个反射脉冲, E4是否存在取决于太赫兹入射点的位置与入射方向, 具体反射路径如图2所示。 当考虑多重反射时, 各个界面都会产生对应的多次反射, 如图中的虚线部分EM所示。 各反射脉冲的光程与其时域位置存在对应关系, 多重反射脉冲EM的部分分量可能出现在E1E3之间。 对于薄涂层样件, 由于多重反射引起了回波重叠, 即E2E3EM的部分分量波形叠加, 在时域波形里很难直接确定E2E3的具体位置, 从而不能用飞行时间法来获得涂层厚度。

图1 CFRP结构图Fig.1 CFRP structure

图2 多层结构的太赫兹传播路径Fig.2 THz propagation paths of multilayer

归因于CFRP的各向异性, CFRP涂层上最后采集的太赫兹反射信号存在差别, 具体如图3所示。 图3(a)为同一入射方向, 不同测量点的反射波形, 图3(b)为同一测量点, 不同入射方向的数据。 显然样件上不同位置、 不同方向的太赫兹反射信号存在明显差别。 而基于理论模型的优化算法求解涂层厚度时, 使用仿真信号与实际信号误差最小原则来确定厚度, 考虑到各向异性材料上的涂层反射信号具有多样性, 因此其精度有限。

图3 样件2不同情况下的太赫兹时域波形
(a): 不同测量点同一方向的THz波形; (b): 同一测量点不同方向的THz波形
Fig.3 THz time-domain waveforms of sample 2 in different conditions
(a): THz waveforms in the same direction at different measuring points; (b): THz waveforms in different directions at the same measuring point

1.2 基于信号稀疏分解的CFRP测厚方法

事实上, 从理论分析与太赫兹反射信号的时域波形上看, 基底的各向异性只对反射信号后面的部分形状有影响, 前面部分的波形中已经含有E1E3反射波形信息。 因此, 只要从前面波形里分解出E1E3的信号, 就不用考虑基底的各向异性。 本文采用稀疏分解[13]方法来解决薄涂层测厚所存在的问题, 定位E1E3信号并使用TOF方法求取CFRP上的涂层厚度。

理论上, 多层结构的涂层作为一个物理系统, 太赫兹信号的传播路径只在分界面发生改变。 因此, 可将待测样品对太赫兹信号的响应近似看作线性系统。 则在时域上, 测量的反射信号可由入射信号与系统的脉冲响应函数卷积得到, 其数学形式为

y(t)=i(t)h(t)+e(t) (1)

式(1)中, y(t)为太赫兹反射回波信号, i(t)为太赫兹入射信号, h(t)为样品的单位脉冲响应, ⊗为卷积符号, t为延迟时间, e(t)代表噪声。

太赫兹时域系统采集信号时遵循奈奎斯特-香农采样定理, 因此需要将连续卷积模型离散化, 离散卷积模型表示为

yn=k=0N-1in-khk+en (2)

式(2)中, yn=y(nTs), hk=h(kTs), nk代表数据采样点的指数, Ts为采样周期, N是测量信号的长度。 实际情形下, 涂层的层数是有限的, 因此脉冲响应序列h中的大部分元素为0, 只有很少部分的非零值对应着各个涂层界面, 即脉冲响应函数是一个稀疏的序列, 将其写成矩阵形式

Y=Ah+e (3)

式(3)中, YN× 1维矩阵, AN× N维矩阵, hN× 1维矩阵。

由于h是稀疏的, 因此式(3)可看作信号Y的稀疏分解问题, 当YA为已知条件时, 通过式(4)可以求解稀疏向量h

ĥ=arg minhh0 subject to Y-Ah2ε (4)

式(4)中‖ h0的求解属于NP-hard问题[14]。 针对该问题的解决方法主要分为两大类: 第一种是求解该问题的一个近似解, 即通过不断迭代, 更新信号的支撑集, 达到逼近目标信号的目的, 该方法称为贪婪算法。 第二种是使用1范数代替0范数, 将NP-hard问题转换为一个近似问题求解, 即求解一个凸最优问题, 凸优化的模型如式(5)所示

ĥ=arg minhh1 subject to Y-Ah2σ (5)

式(5)中, σ 是正则化参数, 用于平衡h的稀疏性和残余范数大小。

对于凸优化的求解方法, 正则化参数σ 非常重要, 平衡着信号重建精度与稀疏度, 它的选择与稀疏字典A的质量与信号噪声情况密切相关, 在实际使用中不易确定。 为此, 本文基于调参方便和充分利用先验知识的考虑, 选择使用能够指定稀疏脉冲个数的贪婪类算法。 贪婪算法中的代表性算法为1993年Mallat等[15]提出的匹配追踪算法(matching pursuits, MP)和2007年Tropp和Gilbert[16]提出的正交匹配追踪算法(orthogonal matching pursuits, OMP), 这两类算法均可用于信号稀疏表示与信号重构。 其中MP方法的方向选择是次优的, 因为残差只与当前投影方向垂直, 在后续投影中, 很可能会再次投影到原来的方向; 为此, OMP算法对所选择的全部原子正交化处理, 使得同一个原子不会被选择两次。 这两种算法都是基于局部最优策略, 并没有考虑所选原子对于最终迭代残差的影响。 为了将原子搜索从局部最优推广至全局最优, Chatterjee等提出了LAOMP算法[17], 该算法加入了前向预测策略, 在每次迭代中先选择L个与残差内积最大的原子, 然后分别计算这L个原子在最终迭代中的性能, 最后选择使迭代残差最小的原子。 稀疏分解方法和飞行时间法结合, 实现CFRP基底上薄涂层厚度检测的整体流程图如图4所示。

图4 稀疏分解法和飞行时间法测厚流程图Fig.4 Flow chart of thickness measurement by sparse decomposition and TOF method

2 实验及结果讨论
2.1 涂层样件

实验采用Menlo System Tera K15全光纤式太赫兹时域光谱系统, 中心波长为1 560 nm, 探测频谱宽度为0.3~3 THz。 先在CFRP基底喷涂底漆, 干燥后再喷涂白漆, 制备了2个不同厚度的样件, 在样件切面用厚度仪测得油漆厚度, 具体厚度如表1所示。 在多个硅片上分别涂抹单层样漆, 采集太赫兹透射光谱, 再根据测量的厚度计算漆的折射率, white的折射率为2.35, primer的折射率为2.27。 CFRP涂层样品在正常的空气环境下, 采用反射的方式采集太赫兹信号, 太赫兹波的入射角度为35° 。

表1 样件厚度设置 Table 1 Settings of sample thickness
2.2 基于仿真数据的算法验证

CFRP的各向异性在光学特性方面表现为同一位置不同方向入射、 不同位置同一方向入射求得的复折射率均不同。 因此, 可以使用等效界面模型产生多层结构的太赫兹反射仿真信号, 通过改变基底的复折射率模拟各向异性特质, 从而验证测厚方法在理想情况下的有效性。

2.2.1 LAOMP算法验证

涂层厚度和折射率按样件2设置, 基底取不同厚度、 不同复折射率的THz反射仿真波形如图5所示。 LAOMP算法的稀疏度K设置为3, 对于图5中不同情况的厚度检测结果如表2所示, 其结果表明: 当涂层一样, 基底复折射率、 厚度发生变化时, LAOMP算法可准确实现对涂层厚度的检测, 并且一致性好。 白漆的厚度相对误差低于4%, 底漆的相对误差较大, 总厚度误差低于5%。 底漆误差较大的主要原因是白漆与底漆的折射率差别不明显且底漆相对较薄, 对应分界面的回波不明显。

图5 不同基底时的太赫兹时域波形Fig.5 THz time-domain waveforms of different substrates

表2 不同基底时LAOMP算法的厚度检测结果 Table 2 The thickness result of different substrates by LAOMP

2.2.2 噪声鲁棒性分析

太赫兹时域系统在实际检测中会引入各类噪声, 尽管噪声产生的机理复杂, 但是可以近似采用高斯噪声、 脉冲噪声两者的组合表示。 在样件1、 2的仿真波形中加入0.2比例的高斯噪声和0.2比例的脉冲噪声, LAOMP算法的厚度检测结果如表3所示。 由表3可知, 无论是否加入噪声, LAOMP算法获得的单层和总厚度结果均接近于设定厚度值, 且结果稳定。 图6(a)为在样件2信号中加入噪声的波形, 图6(b)为LAOMP算法的稀疏分解效果。

表3 LAOMP算法的厚度结果(μ m) Table 3 The result of thickness by LAOMP (μ m)

图6 加入高斯噪声、 脉冲噪声的太赫兹时域波形和LAOMP算法重构的脉冲序列
(a): 加入高斯噪声、 脉冲噪声的信号; (b): 加入噪声后LAOMP算法重构的脉冲序列
Fig.6 THz signal with gaussian, pulse noise and the reconstructed impulse response sequence by LAOMP
(a): THz signal with gaussian, pulse noise; (b): The reconstructed impulse response sequence of noise signal by LAOMP

2.3 基于实际数据的算法验证

2.3.1 实测数据验证

实验室环境下测量的参考信号和样件2信号如图7所示, 考虑到实际操作过程中, 会因为技术、 环境等因素, 造成涂层不均匀, 因此, 在每个样件上选取20个不同位置的测量点, 采集20次数据, 利用算法获得20次数据的分解结果。 结合实际涂层折射率和多层涂层太赫兹反射信号理论模型的分析, 可知符合条件的稀疏脉冲规律应为正-负-负, 使用上述规律并选择绝对值最大脉冲来定位分界面。 因为实际测量数据会受到多种因素的影响, 并不是每一个实际数据都可以分解获得符合稀疏脉冲规律的结果。 同时, 考虑到实际使用中, 对于同一个样件的多个测量信号, 更希望采用相同的参数设置。 因此, 在设置相同参数的情况下, 获得的符合稀疏脉冲规律的结果称为有效分解。 LAOMP算法获得的有效分解次数和厚度结果如表4所示, 表中的单涂层以及总厚度数据均为有效分解数据的均值。

图7 实验室环境下的参考信号和样品信号Fig.7 Reference and sample signal in laboratory environment

表4中的结果可知: LAOMP算法可以有效检测薄涂层, 总厚度误差控制在11%以内。 误差相对较大, 主要原因为实验中的两层涂层均为较小厚度, 折射率相差不大, 使得两层漆的分界面较难区分。 同时, 在样件的制备过程中还存在涂层不均的情况, 切口所测的漆厚度与各点实际厚度的平均值存在误差。

表4 LAOMP方法的厚度结果 Table 4 Thickness results of the LAOMP methods

2.3.2 与SPGL1算法对比

为了对比凸优化算法在本实验中的检测效果, 选择了SPGL1算法。 对于样件1组, SPGL1算法的实现效果如图8所示, 图8(a)、 (b)、 (c)分别为参数σ 设置0.8、 0.6和0.4时的重建和稀疏脉冲情况, 当参数σ 设置的越小, 信号的重建效果越好, 符合理论, 但是这几个参数对应获得的尖峰周围都存在明显波动, 直接影响后续飞行时间法的使用。 图8(d)为LAOMP算法在样件1组的处理结果, 无论是重建效果还是尖峰周围的稳定性, 均更适合用于涂层界面的分析。 对于样件2, SPGL1算法同样难以满足信号重建精度和脉冲稳定性, 而LAOMP算法可以同时实现。

图8 SPGL1和LAOMP算法在样件1上的结果
(a): SPGL1参数为0.8的结果; (b): SPGL1参数为0.6的结果; (c): SPGL1参数为0.4的结果; (d): LAOMP的结果
Fig.8 The result of sample 1 by SPGL1 and LAOMP
(a): The result of parameter 0.8 in SPGL1; (b): The result of parameter 0.6 in SPGL1; (c): The result of parameter 0.4 in SPGL1; (d): The result by LAOMP

3 结论

基于太赫兹时域反射系统, 获得太赫兹信号在多层结构上的反射传播信息, 借助线性系统理论与稀疏分解方法, 使用LAOMP算法获得对应于各涂层界面的稀疏向量, 再结合TOF方法求取CFRP上的薄涂层厚度。 为了验证该方法的可行性, 构造理论传输模型, 获得LAOMP算法在理论波形上的涂层测厚结果。 针对实际的CFRP涂层信号, 为了减弱样件本身涂层不均匀等因素造成的测量误差, 在每个样件上取多个测量点, 最后取有效分解数据的均值作为该样件的厚度结果。 为了进一步分析LAOMP算法的实用性, 还与SPGL1算法进行了比较。 上述实验结果表明, 在双涂层折射率差别较小的情况下, LAOMP算法可以有效检测CFRP上35 μ m的薄涂层, 与SPGL1算法比较具有调参简单、 结果稳定性好的特点。 另外, 所提方法不仅适用于各向异性基底上的薄涂层测厚, 同样适用于各向同性基底的涂层测厚。

尽管LAOMP算法可以有效地求取CFRP上的薄涂层厚度, 但在相邻两层的折射率差别不大的情况下, 单层精度仍然有待提高, 后续将引入信号重建与稀疏表示领域最新研究成果予以改进。

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