高性能三维纳米结构SERS芯片设计、批量制备与痕量汞离子检测

黄辉^1,², 田毅², 张梦蝶^1,², 徐陶然², 牟达^1,^*, 陈佩佩^2,^3,^*, 褚卫国^2,^3,^*

Design and Batchable Fabrication of High Performance 3D Nanostructure SERS Chips and Their Applications to Trace Mercury Ions Detection

HUANG Hui^1,², TIAN Yi², ZHANG Meng-die^1,², XU Tao-ran², MU Da^1,^*, CHEN Pei-pei^2,^3,^*, CHU Wei-guo^2,^3,^*

使用边长分别为(a) 15 mm, (b) 11 mm和(c) 7 mm的双层模板进行纳米压印后受压石英衬底表面照片; (d)边长为7 mm的单层模板进行纳米压印后受压石英衬底表面照片; 各图右下角为使用的模板尺寸和结构示意图