Kamers-Kronig关系在反射太赫兹时域光谱测量中的应用
蔡禾1,2, 张景3, 郑岩1, 孙金海1, 张旭涛1, 李粮生1, 刘永强1, 殷红成1

The Application of Kamers-Kronig Relation in Time Domain Spectral Measurement of Reflection Terahertz
CAI He1,2, ZHANG Jing3, ZHENG Yan1, SUN Jin-hai1, ZHANG Xu-tao1, LI Liang-sheng1, LIU Yong-qiang1, YIN Hong-cheng1
硅片的材料参数反演结果 (a): 折射率; (b): 消光系数 k ; (c): 介电常数实部; (d): 介电常数虚部