利用光谱趋势参数快速判定小麦粉DON等级的研究
吴威
1
, 祖广鹏
1
, 陈桂云
1
, 徐剑宏
2
, 陈坤杰
1,
*
The Study on Quickly Determining DON Level in Wheat Flour by Trend Parameter of Spectra
WU Wei
1
, ZU Guang-peng
1
, CHEN Gui-yun
1
, XU Jian-hong
2
, CHEN Kun-jie
1,
*
各个波段下趋势参数分布图