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光谱学与光谱分析  2008, Vol. 28 Issue (04): 726-730    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593.2008.04.003
  光谱学与光谱分析 |
H12C14N分子ν2垂直带的高温谱线强度及随温度的变化规律
宋晓书1,2,程新路2,杨向东2*,李德华3,葛素红2
1. 贵州师范大学理学院,贵州 贵阳 550001
2. 四川大学原子与分子物理研究所,四川 成都 610065
3. 四川师范大学物理与电子工程学院,四川 成都 610066
Line Intensities of ν2 Perpendicular Band and the Change of Intensities with Temperature for H12C14N
SONG Xiao-shu1,2,CHENG Xin-lu2,YANG Xiang-dong2*,LI De-hua3,GE Su-hong2
1. School of Physics and Chemistry, Guizhou Normal University, Guiyang 550001, China
2. Institute of Atomic and Molecular Physics, Sichuan University, Chengdu 610065, China
3. College of Physics and Electronic Engineering, Sichuan Normal University, Chengdu 610066, China