加入收藏  设为首页
 
返回首页 | English  
   首页   |   期刊介绍   |   编 委 会   |   投稿简则   |   投稿须知   |   获奖情况   |   被收录情况   |   影响因子   |   期刊订阅   |   联系我们   |   专利保护知识问答   |   版权转让协议   |   介绍信(格式)   |   保密审查单   |   投稿模板
光谱学与光谱分析  2016, Vol. 36 Issue (01): 146-150    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2016)01-0146-05
  光谱学与光谱分析 |
Ca(1-x)Al2Si2O8∶Eux表面结构与荧光强度相互关系的研究
贺 晓1, 3,张利胜2,祖恩东1*,杨晓云3,董 鹍3
1. 昆明理工大学材料科学与工程学院,云南 昆明 650093
2. 首都师范大学北京市纳米光电子学重点实验室,北京 100048
3. 昆明理工大学分析测试研究中心,云南 昆明 650093
Research on the Relationship between Surface Structure and Fluorescence Intensity of Ca(1-x)Al2Si2O8∶Eux
HE Xiao1,3, ZHANG Li-sheng2, ZU En-dong1*, YANG Xiao-yun3, DONG Kun3
1. Faculty of Materials Science and Engineering, Kunming University of Science and Technology, Kunming 650093, China
2. Nano Optoelectronics Key Laboratory of Beijing, Capital Normal University, Beijing 100048, China
3. Research Center of Analyze and Testing, Kunming University of Science and Technology, Kunming 650093, China