加入收藏  设为首页
 
返回首页 | English  
   首页   |   期刊介绍   |   编 委 会   |   投稿简则   |   投稿须知   |   获奖情况   |   被收录情况   |   影响因子   |   期刊订阅   |   联系我们   |   专利保护知识问答   |   版权转让协议   |   介绍信(格式)   |   保密审查单   |   投稿模板
光谱学与光谱分析  2012, Vol. 32 Issue (08): 2070-2074    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2012)08-2070-05
  光谱学与光谱分析 |
显微红外光谱填图法示踪中国三个产地的天然钻石中氮杂质的非均匀生长
孙 媛1, 3,丘志力1, 3*,陆太进2,陈 华2, 陈炳辉1, 3,彭淑仪1, 3,魏 然2,李榴芬1, 3
1. 中山大学地球科学系,广东 广州 510275
2. 国土资源部珠宝玉石首饰管理中心,北京 100013
3. 广东省地质过程与矿产资源探查重点实验室,广东 广州 510275
Micro-FTIR Mapping Tracer for the Heterogeneity Growth of Nitrogen Impurities in Natural Diamond from Three Localities in China
SUN Yuan1, 3, QIU Zhi-li1, 3*, LU Tai-jin2, CHEN Hua2, CHEN Bing-hui1, 3, PENG Shu-yi1, 3, WEI Ran2, LI Liu-fen1, 3
1. Department of Earth Science, Sun Yat-sen University, Guangzhou 510275, China
2. National Gems & Jewelry Technology Administrative Center, Beijing 100013, China
3. Guangdong Provincial Key Lab of Geological Processes and Mineral Resource Survey, Guangzhou 510275, China