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光谱学与光谱分析  2012, Vol. 32 Issue (05): 1203-1208    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2012)05-1203-06
  光谱学与光谱分析 |
FTIR单边干涉图相位校正技术的研究与改进
张敏娟2, 张记龙1, 2*,王志斌1, 2,景 宁2,郝 健2
1. 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,山西 太原 030051
2. 中北大学山西省光电信息与仪器工程技术研究中心,山西 太原 030051
Phase Correction Technology Research and Improvement Based on Single-Sided Interferograms in FTIR
ZHANG Min-juan2, ZHANG Ji-long1, 2*, WANG Zhi-bin1, 2, JING Ning2, HAO Jian2
1. Key Laboratory of Instrumentation Science & Dynamic Measurement (North University of China), Ministry of Education, Taiyuan 030051, China
2. Engineering Technology Research Center of Shanxi Province for Opto-Electronic Information and Instrument, North University of China, Taiyuan 030051, China