加入收藏  设为首页
 
返回首页 | English  
   首页   |   期刊介绍   |   编 委 会   |   投稿简则   |   投稿须知   |   获奖情况   |   被收录情况   |   影响因子   |   期刊订阅   |   联系我们   |   专利保护知识问答   |   版权转让协议   |   介绍信(格式)   |   保密审查单   |   投稿模板
光谱学与光谱分析  2012, Vol. 32 Issue (02): 313-316    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2012)02-0313-04
  光谱学与光谱分析 |
超高温FTIR光谱发射率测量系统的线性度分析
王宗伟1,戴景民1,何小瓦2,杨春玲1
1. 哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院,黑龙江 哈尔滨 150001
2. 航天材料及工艺研究所,北京 100076
The Linearity Analysis of Ultrahigh Temperature FTIR Spectral Emissivity Measurement System
WANG Zong-wei1, DAI Jing-min1, HE Xiao-wa2, YANG Chun-ling1
1. School of Electrical Engineering and Automation,Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China
2. Aerospace Research Institute of Material and Processing Technology, Beijing 100076, China