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光谱学与光谱分析  2008, Vol. 28 Issue (02): 291-294    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593.2008.02.014
  光谱学与光谱分析 |
二氧化硅纳米颗粒与碳黑纳米颗粒红外漫反射光谱的测量与分析
杨晓占1,唐崇敏1,刘自力2,姚永毅1,李瑞霞1,吴大诚1*
1. 四川大学纺织研究所,四川 成都 610065
2. 成都东蓝星科技发展有限公司,四川 成都 610051
Measurement and Analysis of Nanometer Particles of Silica and Carbon Black by Diffuse Reflection FTIR Spectra
YANG Xiao-zhan1,TANG Chong-min1,LIU Zi-li2,YAO Yong-yi1,LI Rui-xia1,WU Da-cheng1*
1. Textile Research Institute, Sichuan University, Chengdu 610065, China
2. Chengdu Donglanxing Sci-Tech Company, Chengdu 610051, China