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光谱学与光谱分析  2009, Vol. 29 Issue (06): 1713-1716    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2009)06-1713-04
  光谱学与光谱分析 |
一种基于MEMS微硅多狭缝分光光度计
郝鹏1,2,吴一辉1*,张平1,刘永顺1,张科1,2,黎海文1
1. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室, 吉林 长春 130033
2. 中国科学院研究生院,北京 100039
A Micro-Silicon Multi-Slit Spectrophotometer Based on MEMS Technology
HAO Peng1, 2, WU Yi-hui1*, ZHANG Ping1, LIU Yong-shun1, ZHANG Ke1, 2, LI Hai-wen1
1. National Key Lab of Applied Optics, Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Changchun 130033, China
2. Graduate University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100039, China