加入收藏  设为首页
 
返回首页 | English  
   首页   |   期刊介绍   |   编 委 会   |   投稿简则   |   投稿须知   |   获奖情况   |   被收录情况   |   影响因子   |   期刊订阅   |   联系我们   |   专利保护知识问答   |   版权转让协议   |   介绍信(格式)   |   保密审查单   |   投稿模板
光谱学与光谱分析  2023, Vol. 43 Issue (11): 3461-3468    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2023)11-3461-08
  论文 |
基于X射线吸收光谱法的塑料薄膜厚度测量
方 正,王涵博
厦门大学仪器与电气系,福建 厦门 361102
Measurement of Plastic Film Thickness Based on X-Ray Absorption Spectrometry
FANG Zheng, WANG Han-bo
Department of Instrumental and Electrical Engineering, Xiamen University, Xiamen 361102, China