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光谱学与光谱分析  2021, Vol. 41 Issue (03): 789-795    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2021)03-0789-07
  论文 |
二氧化硅-十八烷基三氯硅烷界面的和频光谱相位测量及其测量精度分析
刘晓杰1,2,徐 帅1,2,李玉琼1,2,靳 刚1,2,冯冉冉1,2,3*
1. 中国科学院力学研究所国家微重力实验室,北京 100190
2. 中国科学院大学工程科学学院,北京 100049
3. 北京大学化学与分子工程学院整合谱学中心,北京 100871
Sum-Frequency Spectrum Phase Measurement of the Silica-Octadecyltrichlorosilane Interface and Measurement Accuracy Analysis
LIU Xiao-jie1,2, XU Shuai1,2, LI Yu-qiong1,2, JIN Gang1,2, FENG Ran-ran1,2,3*
1. National Microgravity Laboratory, Institute of Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190, China
2. School of Engineering Science, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China
3. School of Chemistry and Molecular Engineering, Advanced Spectroscopy Center, Peking University, Beijing 100871, China