基于连续波太赫兹频域光谱系统的样品折射率测定方法
张天尧1,2, 李博扬1, 李星玥1, 李迎1, 吴先毫1, 赵小燕1, 张朝晖1,*

Refractive Index Measurement Using Continuous Wave Terahertz Frequency-Domain Spectroscopy
ZHANG Tian-yao1,2, LI Bo-yang1, LI Xing-yue1, LI Ying1, WU Xian-hao1, ZHAO Xiao-yan1, ZHANG Zhao-hui1,*
(a)使用双基点提取方法处理五个不同厚度PTFE样片原始数据所得折射率谱图; (b)各样品测试频段内折射率频谱平均值