二氧化硅-十八烷基三氯硅烷界面的和频光谱相位测量及其测量精度分析

刘晓杰^1,², 徐帅^1,², 李玉琼^1,², 靳刚^1,², 冯冉冉^1,^2,^3,^*

Sum-Frequency Spectrum Phase Measurement of the Silica-Octadecyltrichlorosilane Interface and Measurement Accuracy Analysis

LIU Xiao-jie^1,², XU Shuai^1,², LI Yu-qiong^1,², JIN Gang^1,², FENG Ran-ran^1,^2,^3,^*

(a) OTS在三个不同测量位置的相位测量虚部谱: (黑色)12.3 mm, (红色)12.1 mm, (蓝色)12.75 mm; (b)模拟在待测样品和参考样品之间引入10°~90°的相对相位后虚部谱的变化