二氧化硅-十八烷基三氯硅烷界面的和频光谱相位测量及其测量精度分析
刘晓杰1,2, 徐帅1,2, 李玉琼1,2, 靳刚1,2, 冯冉冉1,2,3,*

Sum-Frequency Spectrum Phase Measurement of the Silica-Octadecyltrichlorosilane Interface and Measurement Accuracy Analysis
LIU Xiao-jie1,2, XU Shuai1,2, LI Yu-qiong1,2, JIN Gang1,2, FENG Ran-ran1,2,3,*
相位测量(黑色)和强度测量(红色)对比光谱图