二氧化硅-十八烷基三氯硅烷界面的和频光谱相位测量及其测量精度分析
刘晓杰1,2, 徐帅1,2, 李玉琼1,2, 靳刚1,2, 冯冉冉1,2,3,*

Sum-Frequency Spectrum Phase Measurement of the Silica-Octadecyltrichlorosilane Interface and Measurement Accuracy Analysis
LIU Xiao-jie1,2, XU Shuai1,2, LI Yu-qiong1,2, JIN Gang1,2, FENG Ran-ran1,2,3,*
(a)金膜和熔融石英上OTS滤波后的光谱实部(橙色)和虚部(绿色)图; (b)金膜和z-切石英滤波后的光谱实部(红色)和虚部(蓝色)图 类似地, 用z-切石英作为参考样品, 得到z-切石英和金膜的干涉光谱[ 图2 (b)], 与上述数据处理流程类似, 相继得到 图3 (b)和 图4 (b)。 将修饰了OTS的石英和z-切石英的复数谱相比即得到OTS的实部和虚部光谱, 如 图5 所示, 黑色和蓝色分别是虚部谱和实部谱, 实线是拟合曲线。