二氧化硅-十八烷基三氯硅烷界面的和频光谱相位测量及其测量精度分析

刘晓杰^1,², 徐帅^1,², 李玉琼^1,², 靳刚^1,², 冯冉冉^1,^2,^3,^*

Sum-Frequency Spectrum Phase Measurement of the Silica-Octadecyltrichlorosilane Interface and Measurement Accuracy Analysis

LIU Xiao-jie^1,², XU Shuai^1,², LI Yu-qiong^1,², JIN Gang^1,², FENG Ran-ran^1,^2,^3,^*

(a) 金膜和熔融石英上OTS的和频干涉光谱;(b) 金膜和z-切石英的和频干涉光谱