随机优化算法应用于太赫兹测厚方法的研究
张洪桢1,2, 何明霞1,2,*, 石粒力3, 王鹏騛1,2

Terahertz Thickness Measurement Based on Stochastic Optimization Algorithm
ZHANG Hong-zhen1,2, HE Ming-xia1,2,*, SHI Li-li3, WANG Peng-fei1,2
单层样品的测量信号与拟合结果 (a): 黑色漆样品; (b): 底漆样品