加入收藏  设为首页
 
返回首页 | English  
   首页   |   期刊介绍   |   编 委 会   |   投稿简则   |   投稿须知   |   获奖情况   |   被收录情况   |   影响因子   |   期刊订阅   |   联系我们   |   专利保护知识问答   |   版权转让协议   |   介绍信(格式)   |   保密审查单   |   投稿模板
光谱学与光谱分析  2017, Vol. 37 Issue (02): 607-611    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2017)02-0607-05
  光谱学与光谱分析 |
微颗粒X射线荧光强度MCNPX模拟与WDXRF实验
刘合凡1,葛良全2*,周子航1,陆成伟1,宋丹林1,邓 也1,黄凤霞1,胡 翔1,曾国强2
1. 成都市环境保护科学研究院,四川 成都 610072
2. 成都理工大学核技术与自动化工程学院,四川 成都 610059
X-Ray Fluorescence Intensity Calculation for Micro-Particles via MCNPX and WDXRF Experiment
LIU He-fan1, GE Liang-quan2*, ZHOU Zi-hang1, LU Cheng-wei1, SONG Dan-lin1, DENG Ye1, HUANG Feng-xia1, HU Xiang1, ZENG Guo-qiang2
1. Chengdu Research Academy of Environmental Sciences,Chengdu 610072,China
2. The College of Applied Nuclear Technology and Automation Engineering, Chengdu University of Technology, Chengdu 610059, China