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光谱学与光谱分析  2005, Vol. 25 Issue (10): 1537-1541    
  光谱学与光谱分析 |
从热释光曲线同时确定电子复合与俘获之比及陷阱深度
王丽伟1,徐 征1, 2,3*,滕 枫1,张福俊1,孟立建,徐叙瑢1
1. 北京交通大学光电子技术研究所,信息存储与显示重点实验室,北京 100044
2. 波尔图理工大学工程学院波尔图4200-072 葡萄牙
3. 天津大学博士后流动站,天津经济技术开发区博士后工作站天津中环三津有限公司分站,天津 300457
Simultaneous Determination of Rate Ratio of Recombination to Capture and Trap Depth from Thermo-Luminescence of ZnS:Cu, Co
WANG Li-wei1, XU Zheng1,2, 3*, TENG Feng1,ZHANG Fu-jun1, MENG Li-jian2,XU Xu-rong1
1. Institute of Optoelectronics, Beijing Jiaotong University, Beijing 100044, China
2. Departamento de Fisica, Instituto Superior de Engenharia do Porto, Porto, 4200-072, Portugal
3. Tianjin University Postdoctoral Working Station, Postdoctoral Working Station of Zhong-Huan San-Jin Ltd., Tianjin Economy and Technological Development Area, Tianjin 300457, China