加入收藏  设为首页
 
返回首页 | English  
   首页   |   期刊介绍   |   编 委 会   |   投稿简则   |   投稿须知   |   获奖情况   |   被收录情况   |   影响因子   |   期刊订阅   |   联系我们   |   专利保护知识问答   |   版权转让协议   |   介绍信(格式)   |   保密审查单   |   投稿模板
光谱学与光谱分析  2007, Vol. 27 Issue (11): 2145-2149    
  光谱学与光谱分析 |
谱线强度法所测得温度的物理意义
赵文华,唐皇哉*,沈岩,石勇,侯凌云
清华大学航天航空学院,北京 100084
Physical Meaning of Temperature Measured by Spectral Line Intensity Method
ZHAO Wen-hua, TANG Huang-zai*,SHEN Yan, SHI Yong, HOU Ling-yun
School of Aerospace, Tsinghua University, Beijing 100084, China