加入收藏  设为首页
 
返回首页 | English  
   首页   |   期刊介绍   |   编 委 会   |   投稿简则   |   投稿须知   |   获奖情况   |   被收录情况   |   影响因子   |   期刊订阅   |   联系我们   |   专利保护知识问答   |   版权转让协议   |   介绍信(格式)   |   保密审查单   |   投稿模板
光谱学与光谱分析  2012, Vol. 32 Issue (04): 1098-1102    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2012)04-1098-05
  光谱学与光谱分析 |
ICP-AES测定高浓度基体下杂质元素的偏最小二乘法研究
王衍鹏,龚 琦*,喻盛容,刘幽燕
广西大学化学化工学院,广西 南宁 530004
Research on Partial Least Squares for Determination of Impurities in the Presence of High Concentration of Matrix by ICP-AES
WANG Yan-peng, GONG Qi*, YU Sheng-rong, LIU You-yan
School of Chemistry and Chemical Engineering, Guangxi University, Nanning 530004, China