加入收藏  设为首页
 
返回首页 | English  
   首页   |   期刊介绍   |   编 委 会   |   投稿简则   |   投稿须知   |   获奖情况   |   被收录情况   |   影响因子   |   期刊订阅   |   联系我们   |   专利保护知识问答   |   版权转让协议   |   介绍信(格式)   |   保密审查单   |   投稿模板
光谱学与光谱分析  2011, Vol. 31 Issue (03): 696-699    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2011)03-0696-04
  光谱学与光谱分析 |
AlN纳米线高压相变的Raman光谱特征
沈龙海1,李 倩1,吴丽君1,马艳梅2,崔启良2
1. 沈阳理工大学理学院,辽宁 沈阳 110159
2. 吉林大学超硬材料国家重点实验室,吉林 长春 130012
Raman Characterization of High-Pressure Phase Transition in AlN Nanowires
SHEN Long-hai1, LI Qian1, WU Li-jun1, MA Yan-mei2, CUI Qi-liang2
1. School of Science, Shenyang Ligong University, Shenyang 110159, China
2. State Key Laboratory of Superhard Materials, Jilin University, Changchun 130012, China