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光谱学与光谱分析  2005, Vol. 25 Issue (02): 270-273    
  光谱学与光谱分析 |
SiC/Al2O3纳米复合材料压痕残余应力压谱法测量研究
陶 杰,崔益华,李 杨
南京航空航天大学纳米材料研究所,江苏 南京 210016
Study on the Measurement of Residual Stresses around Indentations in SiC/Al2O3 Nanocomposite Using Fluorescence
TAO Jie,CUI Yi-hua,LI Yang
Institute of Nanomaterials, Nanjing University of Aeronautics & Astronautics, Nanjing 210016, China