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光谱学与光谱分析  2009, Vol. 29 Issue (06): 1702-1706    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2009)06-1702-05
  光谱学与光谱分析 |
RVM有监督特征提取与Seyfert光谱分类
李乡儒1,2,5,胡占义1,赵永恒3, 李晓明4
1. 中国科学院自动化研究所, 北京 100080
2. 山东科技大学信息与电气工程学院, 山东 青岛 266510
3. 中国科学院国家天文台, 北京 100012
4. 山西大学数学科学学院, 山西 太原 030006
5. 华南师范大学数学科学学院,广东 广州 510631
RVM Supervised Feature Extraction and Seyfert Spectra Classification
LI Xiang-ru1, 2, 5,HU Zhan-yi1,ZHAO Yong-heng3,LI Xiao-ming4
1. Institute of Automation, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100080, China
2. College of Information and Electrical Engineering, Shandong University of Science and Technology, Qingdao 266510, China
3. National Astronomical Observatories, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100012, China
4. School of Mathematical Science, Shanxi University, Taiyuan 030006, China
5. School of Mathematical Science, South China Normal University, Guangzhou 510631, China