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光谱学与光谱分析  2007, Vol. 27 Issue (04): 675-678    
  光谱学与光谱分析 |
FTIR和XPS对含低价Cr混合物物相分析的应用研究
白玉兰1,2,徐红彬1*,张懿1,李佐虎1
1. 中国科学院过程工程研究所,北京 100080
2. 中国科学院研究生院,北京 100039
Application of FTIR and XPS Technique to the Analysis of the Mixture Containing Chromium in a Low Valence State
BAI Yu-lan1, 2,XU Hong-bin1*,ZHANG Yi1,LI Zuo-hu1
1. Institute of Process Engineering, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100080, China
2. Graduate School of the Chinese Academy of Sciences, Beijing 100039, China