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光谱学与光谱分析  2020, Vol. 40 Issue (05): 1565-1568    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2020)05-1565-04
  论文 |
利用光谱趋势参数快速判定小麦粉DON等级的研究
吴 威1,祖广鹏1,陈桂云1,徐剑宏2,陈坤杰1*
1. 南京农业大学工学院,江苏 南京 210031
2. 江苏省农业科学院食品质量安全与检测研究所,江苏 南京 210014
The Study on Quickly Determining DON Level in Wheat Flour by Trend Parameter of Spectra
WU Wei1, ZU Guang-peng1, CHEN Gui-yun1, XU Jian-hong2, CHEN Kun-jie1*
1. College of Engineering, Nanjing Agricultural University, Nanjing 210031, China
2. Institute of Food Quality and Safety,Jiangsu Academy of Agricultural Sciences,Nanjing 210014,China