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光谱学与光谱分析  2020, Vol. 40 Issue (05): 1388-1392    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2020)05-1388-05
  论文 |
铬掺杂硅团簇的结构、稳定性和光电子谱性质研究
林 琳1,杨桔材2*,迎 春1,李继军1,赵二俊1
1. 内蒙古工业大学理学院物理系,内蒙古 呼和浩特 010051
2. 内蒙古工业大学能源与动力工程学院,内蒙古 呼和浩特 010051
Structures, Stablity and Spectroscopic Property of Chromium Doped Silicon Clusters
LIN Lin1, YANG Ju-cai2*, YING Chun1, LI Ji-jun1, ZHAO Er-jun1
1. College of Science, Inner Mongolia University of Technology, Huhhot 010051, China
2. School of Energy and Power Engineering, Inner Mongolia University of Technology, Huhhot 010051, China