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光谱学与光谱分析  2020, Vol. 40 Issue (03): 950-955    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2020)03-0950-06
  论文 |
XRD-Rietveld全谱拟合法应用于土壤样品物相定量的准确性检验:模拟实验与方法对比
付 伟1,2,彭 召2,罗 鹏2,3,覃建勋4,冯洋洋2
1. 广西有色金属隐伏矿床勘查及材料开发协同创新中心,桂林理工大学,广西 桂林 541004
2. 桂林理工大学地球科学学院,广西 桂林 541004
3. 广西壮族自治区国土资源厅,广西 南宁 530028
4. 广西地质调查院,广西 南宁 530023
Accuracy Testing of Soil Mineral Quantification by XRD-Rietveld Full-Spectrum Fitting Method: Simulation Experiments and Comparison with Traditional Method
FU Wei1,2, PENG Zhao2, LUO Peng2,3, QIN Jian-xun4, FENG Yang-yang2
1. Collaborative Innovation Center for Exploration of Hidden Nonferrous Metal Deposits and Development of New Materials in Guangxi, Guilin University of Technology, Guilin 541004, China
2. Department of Earth Sciences, Guilin University of Technology, Guilin 541004, China
3. Department of Land and Resources of Guangxi Zhuang Autonomous Region, Nanning 530028, China
4. Guangxi Geological Survey Institute, Nanning 530023, China