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光谱学与光谱分析  2018, Vol. 38 Issue (12): 3929-3933    DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2018)12-3929-05
  论文 |
基于X射线光子计数探测技术的材料K-edge特性识别实验研究
何 鹏1,2,吴晓川1,安 康2,邓 刚3,王 星3,周仲兴4,魏 彪1,2,冯 鹏1,2*
1. 重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室, 重庆 400044
2. 重庆大学工业CT无损检测教育部工程研究中心, 重庆 400044
3. 重庆大学生物流变科学与技术教育部重点实验室, 重庆 400044
4. 天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津 300072
Experimental Study of Material K-Edge Characteristics Identification Based on X-ray Photon-Counting Detection Technique
HE Peng1,2, WU Xiao-chuan1, AN Kang2, DENG Gang3, WANG Xing3, ZHOU Zhong-xing4, WEI Biao1,2, FENG Peng1,2*
1. The Key Lab of Optoelectronic Technology and Systems of Ministry of Education, Chongqing University, Chongqing 400044, China
2. ICT-NOT Engineering Research Center of Ministry of Education, Chongqing University, Chongqing 400044, China
3. The Key Laboratory of Rheological Science and Technology of Ministry of Education, Chongqing University, Chongqing 400044, China
4. School of Precision Instruments and Optoelectronics Engineering, Tianjin University, Tianjin 300072, China